Prijava za pregled ovog predmeta na drugim jezicima
Design of an interferometric test station for parallel inspection of MEMS
Stvorio/la
- Europeana
- Schäffel, Christoph
- Michael, S.
- Paris, R.
- Frank, A.
- Zeike, N.
- Gastinger, K.
- Kujawinska, M.
- Zeitner, U.
- Beer, S.
Izdavač
- TU Ilmenau, Ilmenau
Vrsta predmet
- literature
Datum
- 2011
- 2011
Stvorio/la
- Europeana
- Schäffel, Christoph
- Michael, S.
- Paris, R.
- Frank, A.
- Zeike, N.
- Gastinger, K.
- Kujawinska, M.
- Zeitner, U.
- Beer, S.
Izdavač
- TU Ilmenau, Ilmenau
Vrsta predmet
- literature
Datum
- 2011
- 2011
Institucija iz koje dolazi
Agregator
Uvjeti korištenja medija u ovom zapisu (osim ako nije drugačije navedeno)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Prava
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Identifikator
- dmg:29452009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=29452009
Jezik
- en
Odnosi
- Ilmenau University of Technology, Germany
Godina
- 2011
Država iz koje dolazi
- Europe
Naziv zbirke
Prvi put objavljeno na Europeana
- 2013-11-25T17:01:28.339Z
Zadnji put ažurirano od institucije koja pruža podatke
- 2013-11-25T17:01:28.339Z